大顆粒粒徑檢測(cè)是一種常用的粒度儀產(chǎn)品,被廣泛用于建材、化工、冶金、能源、食品、電子、地質(zhì)、軍工、航空航天、機(jī)械、高校、實(shí)驗(yàn)室,研究機(jī)構(gòu)等領(lǐng)域中。
大顆粒粒徑檢測(cè)是通過(guò)顆粒的衍射或散射光的空間分布來(lái)分析顆粒大小的儀器,根據(jù)能譜穩(wěn)定與否分為靜態(tài)光散射粒度儀和動(dòng)態(tài)光散射激光粒度儀。大顆粒粒徑檢測(cè)的缺點(diǎn)是激光性能受溫度影響大,光束的發(fā)散角較大,所以在方向性、單色性和相干性等方面較差。但隨著科學(xué)技術(shù)的迅速發(fā)展,目前大顆粒粒徑檢測(cè)的的性能已經(jīng)達(dá)到很高的水平,而且光束質(zhì)量也有了很大的提高。
大顆粒粒徑檢測(cè)動(dòng)態(tài)范圍寬,重復(fù)性好,操作簡(jiǎn)單方便,設(shè)計(jì)的探測(cè)器陣列,了各種粒度顆粒散射信號(hào)的有效接收,從而了對(duì)寬分布的樣品測(cè)量結(jié)果更為。大顆粒粒徑檢測(cè)功能強(qiáng)大,既能測(cè)試納米級(jí)粉體又能測(cè)試微米級(jí)粉體,兩種測(cè)試功能只需點(diǎn)一下鼠標(biāo),幾秒鐘就實(shí)現(xiàn)快捷轉(zhuǎn)換。
大顆粒粒徑檢測(cè)集光學(xué)、電路、樣品池、超聲波分散、攪拌循環(huán)、全自動(dòng)清洗一體化,電腦控制下自動(dòng)對(duì)中校零。測(cè)試時(shí)樣品在管道內(nèi)流動(dòng)的時(shí)間短,避免了樣品分散后的分層和重新團(tuán)聚,從而儀器重復(fù)性、穩(wěn)定性好。大顆粒粒徑檢測(cè)具有2種進(jìn)樣系統(tǒng)可選,滿足您的各種測(cè)試需求。2種進(jìn)樣系統(tǒng)能方便地互換,包括普通型、微量型,用戶可根據(jù)實(shí)際需要選擇不同的數(shù)據(jù)處理方法和分布模型。
大顆粒粒徑檢測(cè)包含多種分布模式,有自由分布、對(duì)數(shù)正態(tài)分布、R-R分布等,可以滿足不同樣品的測(cè)試和對(duì)比的需要,對(duì)試樣進(jìn)行干燥處理,避免試樣結(jié)塊導(dǎo)致檢測(cè)結(jié)果有誤。將軟件測(cè)試模式切換為干法,打開(kāi)吸塵器,將吸塵管口于干粉測(cè)試臺(tái)聯(lián)接,用刷清掃載物臺(tái)及載物量筒,并用量勺將試樣均勻置于量筒內(nèi)。